走査型プローブ顕微鏡を用いたナノスケール温度・熱物性計測技術

走査型プローブ顕微鏡を用いたナノスケール温度・熱物性計測技術
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使用扫描探针显微镜的纳米级温度和热物理性质测量技术

DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
計測と制御
影响因子:
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通讯作者:
田口良広
田口良広
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
田口良広

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