Surface measurement of indium tin oxide thin film by wavelength-tuning Fizeau interferometry
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波长调谐斐索干涉法测量氧化铟锡薄膜的表面
DOI：
10.1364/ao.54.007135
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
Naohiko Sugita and Mamoru Mitsuishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yangjin Kim;Kenichi Hibino;Naohiko Sugita and Mamoru Mitsuishi
