Effects of Ar pressure on the morphology, structure and electrical properties of CdZnTe film deposited by magnetron sputtering
Effects of Ar pressure on the morphology, structure and electrical properties of CdZnTe film deposited by magnetron sputtering
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Ar压力对磁控溅射CdZnTe薄膜形貌、结构和电性能的影响
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Gu Yaxu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xi Shouzhi;Jie Wanqi;Wang Tao;Zha Gangqiang;Wang Aoqiu;Yu Hui;Xu Lingyan;Zhang Hao;Yang Fan;Zhou Boru;Xu Yadong;Gu Yaxu
