小山 良, 工藤謙一, 樋口俊郎: "近赤外分光分析法を用いた米の成分情報イメージング"非破壊計測シンポジウム講演要旨. 158-159 (2002)
小山 良, 工藤謙一, 樋口俊郎: "近赤外分光分析法を用いた米の成分情報イメージング"非破壊計測シンポジウム講演要旨. 158-159 (2002)
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Ryo Koyama、Kenichi Kudo、Toshiro Higuchi：“使用近红外光谱进行大米成分信息成像”无损测量研讨会摘要 158-159 (2002)。
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