Takuya SUZUKI: "Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal-Insulator-Semiconductor (MFMIS) Structures Using (Bi,La)_4Ti_3O_<12> and HfO_2 Buffer Layers"Jpn. J. Appl. Phys.. Vol.41 Part1, No.11B. 6886-6889 (2002)
Takuya SUZUKI: "Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal-Insulator-Semiconductor (MFMIS) Structures Using (Bi,La)_4Ti_3O_<12> and HfO_2 Buffer Layers"Jpn. J. Appl. Phys.. Vol.41 Part1, No.11B. 6886-6889 (2002)
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Takuya SUZUKI：“使用 (Bi,La)_4Ti_3O_<12> 和 HfO_2 缓冲层表征金属-铁电-金属-绝缘体-半导体 (MFMIS) 结构”Jpn。
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