エレクトロニックグレードダイヤモンドとFIB加工を用いた走査NV中心プローブの開発
エレクトロニックグレードダイヤモンドとFIB加工を用いた走査NV中心プローブの開発
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使用电子级金刚石和 FIB 加工开发扫描 NV 中心探头
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
安 東秀
中科院分区：
文献类型：
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作者：
出口 碧惟;貝沼 雄太;林 都隆;安 東秀
