Damage behavior and atomic migration in MgAl2O4 under an 80 keV scanning focused probe in a STEM.
Damage behavior and atomic migration in MgAl2O4 under an 80 keV scanning focused probe in a STEM.
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DOI：
10.1016/j.micron.2014.05.010
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
2.4
通讯作者：
G. Zhu;G. Botton
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Zhu;G. Botton
