ナノスケールの4端子抵抗測定における量子干渉効果の理論研究
ナノスケールの4端子抵抗測定における量子干渉効果の理論研究
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纳米级四端电阻测量中量子干涉效应的理论研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡邉聡
中科院分区：
文献类型：
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作者：
寺澤麻子;飛松啓司;多田朋史;山本貴博;渡邉聡
