T.Abukawa,C.M.Wei,K.Yoshimura,S.Kono: "Direct method of surface structure determination by Patterson analysis of correlated thermal diffused scattering for Si(001)2x1"Physical Review. B62. 16069-16073 (2000)
T.Abukawa,C.M.Wei,K.Yoshimura,S.Kono: "Direct method of surface structure determination by Patterson analysis of correlated thermal diffused scattering for Si(001)2x1"Physical Review. B62. 16069-16073 (2000)
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T.Abukawa、C.M.Wei、K.Yoshimura、S.Kono：“通过 Si(001)2x1 相关热扩散散射的帕特森分析直接确定表面结构的方法”物理评论。
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