M.Owari,H.Satho,B.Tomiyasu,and Y.Nihei: "Micro Cross-Sectioning and Multielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion Beam SIMS" Secondary Ion Mass Spectromtry SIMS VIII. 545-548 (1992)
M.Owari,H.Satho,B.Tomiyasu,and Y.Nihei: "Micro Cross-Sectioning and Multielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion Beam SIMS" Secondary Ion Mass Spectromtry SIMS VIII. 545-548 (1992)
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M.Owari、H.Satho、B.Tomiyasu 和 Y.Nihei：“通过镓聚焦离子束 SIMS 进行微观结构的微观横截面和多元素平行绘图”二次离子质谱 SIMS VIII。
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