Y.Koide,T.Arai,and M.Murakami: "Electrical properties and reliabilities of Pt, PtAu, NiAu, and TaTi Ohmic contact materials for p-GaN"Proceedings of International workshop on Nitrid Semiconductors. IPAP Conf.Ser.1. 821-824 (2000)
Y.Koide,T.Arai,and M.Murakami: "Electrical properties and reliabilities of Pt, PtAu, NiAu, and TaTi Ohmic contact materials for p-GaN"Proceedings of International workshop on Nitrid Semiconductors. IPAP Conf.Ser.1. 821-824 (2000)
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Y.Koide、T.Arai 和 M.Murakami：“p-GaN 的 Pt、PtAu、NiAu 和 TaTi 欧姆接触材料的电性能和可靠性”氮化物半导体国际研讨会论文集。
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