テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)測定によるSiの複素誘電率評価
テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)測定によるSiの複素誘電率評価
复制标题
使用太赫兹时域光谱 (THz-TDS) 测量评估 Si 的复介电常数
DOI：
--
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
平野拓一
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
平野拓一;平野拓一
