Development of electron-tracking Compton imaging system with 30-μm SOI pixel sensor
Development of electron-tracking Compton imaging system with 30-μm SOI pixel sensor
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开发具有 30 μm SOI 像素传感器的电子跟踪康普顿成像系统
DOI：
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发表时间：
2017
影响因子：
1.3
通讯作者：
and Y. Arai.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshihara;Y.;K. Shimazoe;Y. Mizumachi;H. Takahashi;K. Kamada;A. Takeda;T. Tsuru;and Y. Arai.
