“A promising path of Tearing Mode Entrainment in the Presence of Static Error Field
“A promising path of Tearing Mode Entrainment in the Presence of Static Error Field
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“存在静态误差场时撕裂模式夹带的一条有前途的路径
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Shiraki,
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Okabayashi;S. Inoue;N. Logan;Z. Wang;Z. Taylor;E. Strait;R. La Haye;J. Hanson;D. Shiraki,
