FPGAテストのための耐ソフトエラーBIST
FPGAテストのための耐ソフトエラーBIST
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用于 FPGA 测试的软容错 BIST
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大竹哲史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上田大樹;嶋津大地;大竹哲史
