ストリーク反射高速電子回折法によるSi表面の観測
ストリーク反射高速電子回折法によるSi表面の観測
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采用条纹反射高速电子衍射法观察硅表面
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
虻川匡司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤和義;虻川匡司
