A Novel Method to Measure Microwave Critical CurrentDensities at Different Frequencies in HTS Thin Films
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复制标题
测量高温超导薄膜中不同频率微波临界电流密度的新方法
DOI：
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发表时间：
2016
影响因子：
1.8
通讯作者：
Cheng Zeng
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Liu Chen;Cheng Zeng
