ベイズ推定に基づく皮下組織厚補正を用いた体表上の解剖学的特徴点ベースのレジストレーション
ベイズ推定に基づく皮下組織厚補正を用いた体表上の解剖学的特徴点ベースのレジストレーション
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基于贝叶斯估计的皮下组织厚度校正的体表解剖特征点配准
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
伊関洋
中科院分区：
文献类型：
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作者：
植松美幸;中野喜隆;許家群;坂本怜;梅津光生;青見茂之;中村亮一;鈴木孝司;村垣善浩;伊関洋
