T.Takahashi: "Characterization of InAs dots on n-GaAs by AFM with a conductive tip" Surface and Interface Analysis. 27(印刷中). (1999)
T.Takahashi: "Characterization of InAs dots on n-GaAs by AFM with a conductive tip" Surface and Interface Analysis. 27(印刷中). (1999)
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T.Takahashi：“使用导电尖端的 AFM 对 n-GaAs 上的 InAs 点进行表征”27（出版中）。
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