Nobuyuki Sano et al.: "Influence of Electronic Thermal Noise on Drain Current in Very Small Si-MOSFETs"Jpn.J.Appl.Phys.. Vol.4. 1974-1978 (2000)
Nobuyuki Sano et al.: "Influence of Electronic Thermal Noise on Drain Current in Very Small Si-MOSFETs"Jpn.J.Appl.Phys.. Vol.4. 1974-1978 (2000)
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Nobuyuki Sano 等人：“电子热噪声对超小型 Si-MOSFET 漏极电流的影响”Jpn.J.Appl.Phys.Vol.4。
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