I.Shiraki,T.Nagao,S.Hasegawa,P.Boggild,T.M.Hansen,F.Grey: "Micro-Four-Point Probes in a UHV-Scanning Electron Microscope for In-Situ Surface Conductivity Measurements"Surface Review and Letters. 7巻・5/6号. 533-537 (2000)
I.Shiraki,T.Nagao,S.Hasegawa,P.Boggild,T.M.Hansen,F.Grey: "Micro-Four-Point Probes in a UHV-Scanning Electron Microscope for In-Situ Surface Conductivity Measurements"Surface Review and Letters. 7巻・5/6号. 533-537 (2000)
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I. Shiraki、T. Nagao、S. Hasekawa、P. Boggild、T. M. Hansen、F. Gray：“用于原位表面电导率测量的特高压扫描电子显微镜中的微型四点探针”表面评论和快报。第 7 卷，第 5/6 期。533-537 (2000)
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