走査型プローブ顕微鏡によるSi_3N_4セラミックスのき裂進展過程のその場観察
走査型プローブ顕微鏡によるSi_3N_4セラミックスのき裂進展過程のその場観察
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扫描探针显微镜原位观察Si_3N_4陶瓷裂纹扩展过程
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
目黒竹司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
大西将弘;多々見純一;脇原徹;米屋勝利;目黒竹司
