X回線折法によるナノ材料の界面構造の迅速評価
X回線折法によるナノ材料の界面構造の迅速評価
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利用X射线衍射法快速评价纳米材料的界面结构
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
三木一司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂田修身;吉本護;三木一司
