Single-photon detection by Si single-electron FETs
Single-photon detection by Si single-electron FETs
复制标题
Si 单电子 FET 的单光子检测
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Tabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Dewi Larasati ZR;Tsunemi Watanabe;H.Kobayashi;光武和典;M. Tabe
