a-Si:H/c-Siヘテロ界面近傍ボイド構造の高速評価 －ボイドサイズ・水素結合・Si結合角ゆらぎの相互相関－
a-Si:H/c-Siヘテロ界面近傍ボイド構造の高速評価 －ボイドサイズ・水素結合・Si結合角ゆらぎの相互相関－
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高速评估a-Si:H/c-Si异质界面附近的空隙结构 - 空隙尺寸、氢键和Si键角波动的互相关 -
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
上殿 明良
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松木 伸行;オローク ブライアン;大島 永康;上殿 明良
