Numerical Verification of Five Solutions in Two-transistor Circuits

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二晶体管电路五种解的数值验证

DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Proc. of 2006 International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2006)
影响因子：
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通讯作者：
M.Claus
M.Claus
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Y.Nakaya;S.Oishi;T.Nishi;M.Claus

文献摘要

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