Scan vulnerability in elliptic curve cryptosystems

Scan vulnerability in elliptic curve cryptosystems
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扫描椭圆曲线密码系统中的漏洞

DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
IPSJ Trans. on System LSI Design Methodology
影响因子：
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通讯作者：
Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki
Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Ryuta Nara;Nozomu Togawa;Masao Yanagisawa and Tatsuo Ohtsuki

文献摘要

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