A Prescription for Sub-Millimeter-Wave Transistor Characterization
A Prescription for Sub-Millimeter-Wave Transistor Characterization
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亚毫米波晶体管表征的处方
DOI：
10.1109/tthz.2013.2255332
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发表时间：
2013
影响因子：
3.2
通讯作者：
Miguel E. Urteaga
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Dylan F. Williams;Adam C. Young;Miguel E. Urteaga
在本文中，我们提出了一种方法，用于表征晶体管嵌入微带线上形成的薄bisbenzocyclobutene（BCB）的单体薄膜在亚毫米波波长。我们证明了在高达750 GHz的频率的方法，并估计该过程的不确定性。
In this paper, we present an approach for characterizing transistors embedded in microstrip lines formed on a thin bisbenzocyclobutene-based (BCB) monomers film at sub-millimeter-wave wavelengths. We demonstrate the approach at frequencies up to 750 GHz and estimate the uncertainty of the procedure.