Benchmark cross sections for electron-impact total single ionization of helium
Benchmark cross sections for electron-impact total single ionization of helium
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氦电子轰击总单次电离的基准截面
DOI：
10.1088/0953-4075/44/6/061001
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Fursa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Bray;D. Fursa
我们建立了电子碰撞电离氦的总单电离截面，精度为百分之几，从近阈值到1千电子伏。这是完全从头计算使用收敛的紧耦合方法，而不经常使用的冻结核近似。我们发现与RejouB等人（2002 Phys. Rev. A 65 042713）和Sorokin等人（2004 J. Phys. B：At.摩尔Opt.Phys.373215），比以前使用的标准低约5%。
We establish the total single ionization cross section for electron-impact ionization of helium, to an accuracy of few per cent, from near threshold to 1 keV. This is done fully ab initio using the convergent close-coupling method without the often-used frozen-core approximation. We find excellent agreement with the most recent measurements of Rejoub et al (2002 Phys. Rev. A 65 042713) and Sorokin et al (2004 J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 37 3215), which are around 5% less than the previously used standard.