Suppression of the unconbentional metallic behavior by gate voltage in MWNT device
Suppression of the unconbentional metallic behavior by gate voltage in MWNT device
复制标题
MWNT器件中栅极电压抑制非常规金属行为
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Kanbara et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
馬場俊彦;佐々木弘和;足立淳;川崎俊史;森大祐;T.Kanbara et al.
