Exploiting Memory Corruption Vulnerabilities in Connman for IoT Devices
Exploiting Memory Corruption Vulnerabilities in Connman for IoT Devices
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针对 IoT 设备利用 Connman 中的内存损坏漏洞
DOI：
10.1109/dsn.2019.00036
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sridhar, Meera
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
English, K. Virgil;Obaidat, Islam;Sridhar, Meera
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影响因子：
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通讯作者：
H. Shacham