Spatial Mapping of Potential Fluctuation in GaAs/AlGaAs and Graphene by a Scanning Nanoelectrometer
Spatial Mapping of Potential Fluctuation in GaAs/AlGaAs and Graphene by a Scanning Nanoelectrometer
复制标题
利用扫描纳静电计绘制 GaAs/AlGaAs 和石墨烯电势涨落的空间图
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y.Kawano
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
坂井伸之;竹田隆一;金義信;坂井伸之;坂井伸之;坂井伸之;坂井伸之;坂井伸之;坂井伸之;Y.Kawano;Y.Kawano;河野行雄;Y.Kawano
