J-PARC muon g-2/EDM実験：シリコンストリップ検出器用読み出しASICのための品質検査状況
J-PARC muon g-2/EDM実験：シリコンストリップ検出器用読み出しASICのための品質検査状況
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J-PARC muon g-2/EDM实验：硅条检测器读出ASIC的质量检验状况
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山中，久米，高富，佐藤（伸），他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
久米;三部，道畑，高橋;Aprile E et al.;山中，久米，高富，佐藤（伸），他
