高エネルギー X 線の偏光を検出するマイクロパターン TPC 型偏光計の開発
高エネルギー X 線の偏光を検出するマイクロパターン TPC 型偏光計の開発
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开发用于检测高能X射线偏振的微图案TPC型旋光计
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
榎戸 輝揚
中科院分区：
文献类型：
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作者：
若松孝也;大久保美穂;窪田恵;周圓輝;小田苑会;早藤麻美;中野俊男;北口貴雄;岩切渉;玉川 徹;榎戸 輝揚
