Y.Takakuwa, F.Ishida: "Real-time monitoring of the growth and decomposition of SiO_2 layers on Si(001) by a combined method of RHEED and AES"J.Electron Spectrosc.Relat.Phenom.. 114-116. 401-407 (2001)
Y.Takakuwa, F.Ishida: "Real-time monitoring of the growth and decomposition of SiO_2 layers on Si(001) by a combined method of RHEED and AES"J.Electron Spectrosc.Relat.Phenom.. 114-116. 401-407 (2001)
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Y.Takakuwa、F.Ishida：“通过 RHEED 和 AES 组合方法实时监测 Si(001) 上 SiO_2 层的生长和分解”J.Electron Spectrosc.Relat.Phenom.. 114-116。
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