Combined near edge X-ray absorption fine structure and X-ray photoemission spectroscopies for the study of amorphous carbon thin films
Combined near edge X-ray absorption fine structure and X-ray photoemission spectroscopies for the study of amorphous carbon thin films
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结合近边缘 X 射线吸收精细结构和 X 射线光电子能谱研究非晶碳薄膜
DOI：
10.1016/s0368-2048(98)00348-x
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发表时间：
1999
影响因子：
1.9
通讯作者：
Z. Hussain
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Díaz;S. Anders;X. Zhou;E. Moler;S. Kellar;Z. Hussain
