Determination of the charge injection barrier at organic semiconductor/metal interface using accumulated charge measurement.
Determination of the charge injection barrier at organic semiconductor/metal interface using accumulated charge measurement.
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使用累积电荷测量确定有机半导体/金属界面处的电荷注入势垒。
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Tajima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mitsunori Honda;Ryu Nakajima;Ko-Ki Kunimoto;and Masahito Segi;H. Tajima
