High-speed IR imaging of a quenched interface of an undercooled droplet impinging on a silicon wafer
High-speed IR imaging of a quenched interface of an undercooled droplet impinging on a silicon wafer
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过冷液滴撞击硅片的淬火界面的高速红外成像
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Motegi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Nagashio;K. Kodaira;K. Kuribayashi;and T. Motegi
