Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "Studay on the dislocation lined in In-doped GaAs crystals by IR scattering tomography and Transmission microscopy" Materials Science Forum. 38ー41. 1283-1288 (1989)
Kazufumi Sakai and Tomoya Ogawa: "Studay on the dislocation lined in In-doped GaAs crystals by IR scattering tomography and Transmission microscopy" Materials Science Forum. 38ー41. 1283-1288 (1989)
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Kazufumi Sakai 和 Tomoya Okawa：“通过红外散射断层扫描和透射显微镜研究 In 掺杂 GaAs 晶体中的位错”材料科学论坛 38-41 (1989)。
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