DEVELOPMENT OF STRESS ANALYZER USING WHOLE X-RAY DIFFRACTION RING
DEVELOPMENT OF STRESS ANALYZER USING WHOLE X-RAY DIFFRACTION RING
复制标题
全X射线衍射环应力分析仪的研制
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Hagiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Shitaba;M.Yoshikawa;S.Ohya;K.Akita;Y.Hagiwara
通过 PSPC 方法测量的 X 射线衍射图谱的校正。
DOI：
10.2472/jsms.38.617
发表时间：
1989
期刊：
Journal of The Society of Materials Science, Japan
影响因子：
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作者：
S. Ohya;Y. Yoshioka
通讯作者：
Y. Yoshioka