X線CTR散乱法によるBi/Bi2Te3トポロジカル絶縁体薄膜の界面構造解析
X線CTR散乱法によるBi/Bi2Te3トポロジカル絶縁体薄膜の界面構造解析
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X射线CTR散射法分析Bi/Bi2Te3拓扑绝缘体薄膜界面结构
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
白澤徹郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
白澤徹郎
