Y. Hasegawa et al.: "Erasable nanometer-scale modification at the Au/Si interface by ballistic electron emission microscopy"Appl. Pys. Lett.. 75. 3668 (1999)
Y. Hasegawa et al.: "Erasable nanometer-scale modification at the Au/Si interface by ballistic electron emission microscopy"Appl. Pys. Lett.. 75. 3668 (1999)
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Y. Hasekawa 等人：“通过弹道电子发射显微镜在 Au/Si 界面进行可擦除纳米级修饰”Appl。
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