Proton Damage in X-Ray CCDs for Space Applications : Ground Evaluation Techniques and E ects on Flight
Proton Damage in X-Ray CCDs for Space Applications : Ground Evaluation Techniques and E ects on Flight
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空间应用 X 射线 CCD 中的质子损伤：地面评估技术及其对飞行的影响
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Bautz
中科院分区：
文献类型：
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作者：
PerformanceKeith Gendreau;M. Bautz
我们报告了即将在几颗天文研究卫星上发射的一种类型的电荷耦合装置x射线探测器上对2.1 MeV和40 MeV质子的辐射的测量。我们讨论了地面性能表征技术，并将我们的测量结果与探测器损坏机制的简单模型进行了比较。我们预测了探测器在近地轨道上的性能退化率。我们计划将这些预测与安装在1993年2月20日发射的日本/美国x射线天文卫星飞鸟卫星上的固态成像光谱仪（SIS）焦平面仪器获得的早期数据进行比较。
We report measurements of eeects of 2.1 MeV and 40 MeV protons on Charge Coupled Device X-ray detectors of a type soon to be launched on several astronomical research satellites. We discuss ground performance characterization techniques and compare our measurements to simple models of the detector damage mechanism. We predict detector peformance degradation rates in low-earth orbit. We plan to compare these predictions to early ight data obtained from the Solid State Imaging Spectrometer (SIS) focal plane instrument mounted on the Japan/US X-ray astronomy satellite Asuka launched on February 20, 1993.