真空輸送装置を用いた半導体フォトカソードの劣化メカニズムの光電子分光分析
真空輸送装置を用いた半導体フォトカソードの劣化メカニズムの光電子分光分析
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利用真空传输装置光电子能谱分析半导体光电阴极的劣化机理
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
塩原慧介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Maeda;T. Tadokoro;Y. Ueno;K. Nishida;Y. Kani;M. Itoh;T. Sasaki;T. Watanabe;H. Kikunaga;S. Kashiwagi;K. Shirasaki;S. Sekimoto;T. Ohtsuki;M. Inagaki;山田昭子;塩原慧介
