K.Miyake, H.Oigawa, K.Hata, R.Morita, M.Yamashita, and H.Shigekawa: "Stability and Nuclear Formation of Si(111)-7×7 Structure as Determined from Charge Redistribution in Surface Layers"Suface Science. 429・1-3. 260-273 (1999)
K.Miyake, H.Oigawa, K.Hata, R.Morita, M.Yamashita, and H.Shigekawa: "Stability and Nuclear Formation of Si(111)-7×7 Structure as Determined from Charge Redistribution in Surface Layers"Suface Science. 429・1-3. 260-273 (1999)
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K.Miyake、H.Oikawa、K.Hata、R.Morita、M.Yamashita 和 H.Shigekawa：“根据表面层电荷重新分布确定 Si(111)-7×7 结构的稳定性和核形成”表面科学429・1-3。
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