In Situ High-resolution Transmission Electron Microscopy of Electromigration in Nanometer-sized Copper Contacts
In Situ High-resolution Transmission Electron Microscopy of Electromigration in Nanometer-sized Copper Contacts
复制标题
纳米级铜触点电迁移的原位高分辨率透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hisanori Aoki and Tokushi Kizuka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Satoshi Kodama;Tokushi Kizuka;宮崎久生;Hisanori Aoki and Tokushi Kizuka
