Resistivity profiles and foundation structure of Central Tower, Bayon in Angkor
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复制标题
吴哥巴戎寺中央塔电阻率剖面及基础结构
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Takahashi and Y. Iwasaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Nakagawa;I. Shimoda;S. Yamada;R. Kanai;Y. Ogawa;Y. (Yasuda) Ohta;M. Fukuda;A. Jomori;T. Takahashi and Y. Iwasaki
