Seebeck coefficient of thin SOI films measured by Kelvin-probe force microscopy
Seebeck coefficient of thin SOI films measured by Kelvin-probe force microscopy
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通过开尔文探针力显微镜测量 SOI 薄膜的塞贝克系数
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Miwa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ikeda;F. Salleh;K. Miwa
