Inductive Linear Probing for Few-Shot Node Classification
Inductive Linear Probing for Few-Shot Node Classification
复制标题
用于少样本节点分类的感应线性探测
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Liu, Huan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mathavan, Hirthik;Tan, Zhen;Mudiam, Nivedh;Liu, Huan
