M.Sakashita: "Observation of Si-SiO_2 Interface States within the Conduction Band by Tunneling Current Speetroscopy" Applied Surface Science. 56-58. 841-845 (1992)
M.Sakashita: "Observation of Si-SiO_2 Interface States within the Conduction Band by Tunneling Current Speetroscopy" Applied Surface Science. 56-58. 841-845 (1992)
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M.Sakashita：“通过隧道电流光谱观察导带内的 Si-SiO_2 界面状态”应用表面科学。
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